已知序列向量 x(n)={1 2 3 3 2 1)。 (1)求出x(n)的傅里叶变换X(ejω) 画

大学本科 已帮助: 时间:2024-11-22 18:01:09

已知序列向量,x(n)={1,2,3,3,2,1)。 (1)求出x(n)的傅里叶变换X(ejω),画出幅频特性和相频特性曲线。 (2)计算x(n)的N(N≥6)点离散傅里叶变换X(k),画出幅频特性和相频特性线。 (3)将X(ejω)和X(k)的幅频特性和相频特性曲线分别画在同一幅图中,验证X(k)X(ejω)的等间隔采样,采样间隔为2π/N。 (4)计算X(k)的N点IDFT,验证DFT和IDFT的唯一性。
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难度:⭐⭐⭐

题库:大学本科,工学,电气信息类

标签:求出,间隔,特性

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463***103

2024-11-22 18:01:09

正确答案:程序清单如下 w=2*pi*(0:255)/256; Xw=1+2*exp(一j*w)+3*exp(一j*2*w)+3*exp(一j*3*w)+2*exp(一j*4*w)+exp(一J*5*w); figure(1) subplot(211); plot(w/piabs(Xw)′.′);title(′x(n)的幅频曲线′) subplot(212);plot(w/piangle(xw));1ine([02[00);title(′x(n)的相频曲线′) figure(2) N1=6;K1=0:N1一1;N2=18;K2=0:N2一1;N3=36;K3=0:N3—1 ; xn=[123321; Xk1=fft(xnN1); subplot(321);stem(K1abs(Xkl)′.′); title(′N=6点时的DFT[x(n)=x1(k)′);hold on plot(N1/2*w/piabs(xw)′r′); subplot(322);stem(K1angle(Xk1)′.′);title(′x1(k)的相位′) Xk2=fft(xnN2); subplot(323);stem(K2abs(Xk2)′.′); title(′N=18点的DFT[x(n)=X2(k)′);hold on plot(N2/2*w/piabs(xw)′r′); subplot(324); stem(K2angle(Xk2)′.′);title(′X2(k)的相位′) Xk3=fft(xnN3); subplot(325);stem(K3abs(Xk3)′.′); title(′N=36点时的DFT[x(n)=X3(k)′);hold on plot(N3/2*w/piabs(xw)′r′); subplot(326); stem(K3angle(Xk3)′.′); title(′X3(k)的相位′);hold on figure(3) xn1=ifft(xklN1);stem(K1xn1); title(′x1(k)作2DFT得到的xl(n)与原序列x(n)一致′)程序运行结果如图3.5~图3.7所示。图3.5显示的是x(n)的傅里叶变换X(e)的幅频特性和相频特性曲线;图3.6显示的是x(n)在N处分别等于61836点时的DFT及相应的相位特性曲线并且在图3.6中将X(e)和X(k)的幅频特性分别画在同一幅图中可以看出X(k)是X(e)的等间隔采样采样间隔为2π/N。图3.7显示的是利用得到的X(k)作IDFT得到的序列与原序列x(n)完全一致因此也验证了DFT和IDFT的唯一性。
程序清单如下w=2*pi*(0:255)/256;Xw=1+2*exp(一j*w)+3*exp(一j*2*w)+3*exp(一j*3*w)+2*exp(一j*4*w)+exp(一J*5*w);figure(1)subplot(2,1,1);plot(w/pi,abs(Xw),′.′);title(′x(n)的幅频曲线′)subplot(2,1,2);plot(w/pi,angle(xw));1ine([0,2,[0,0);title(′x(n)的相频曲线′)figure(2)N1=6;K1=0:N1一1;N2=18;K2=0:N2一1;N3=36;K3=0:N3—1;xn=[1,2,3,3,2,1;Xk1=fft(xn,N1);subplot(3,2,1);stem(K1,abs(Xkl),′.′);title(′N=6点时的DFT[x(n)=x1(k)′);holdonplot(N1/2*w/pi,abs(xw),′r′);subplot(3,2,2);stem(K1,angle(Xk1),′.′);title(′x1(k)的相位′)Xk2=fft(xn,N2);subplot(3,2,3);stem(K2,abs(Xk2),′.′);title(′N=18点的DFT[x(n)=X2(k)′);holdonplot(N2/2*w/pi,abs(xw),′r′);subplot(3,2,4);stem(K2,angle(Xk2),′.′);title(′X2(k)的相位′)Xk3=fft(xn,N3);subplot(3,2,5);stem(K3,abs(Xk3),′.′);title(′N=36点时的DFT[x(n)=X3(k)′);holdonplot(N3/2*w/pi,abs(xw),′r′);subplot(3,2,6);stem(K3,angle(Xk3),′.′);title(′X3(k)的相位′);holdonfigure(3)xn1=ifft(xkl,N1);stem(K1,xn1);title(′x1(k)作2DFT,得到的xl(n)与原序列x(n)一致′)程序运行结果如图3.5~图3.7所示。图3.5显示的是x(n)的傅里叶变换X(ejω)的幅频特性和相频特性曲线;图3.6显示的是x(n)在N处分别等于6,18,36点时的DFT及相应的相位特性曲线,并且在图3.6中将X(ejω)和X(k)的幅频特性分别画在同一幅图中,可以看出,X(k)是X(ejω)的等间隔采样,采样间隔为2π/N。图3.7显示的是利用得到的X(k)作IDFT,得到的序列与原序列x(n)完全一致,因此也验证了DFT和IDFT的唯一性。

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